2005 IEEE Electron Device Letters 논문 게재
이명진 저자의 논문 「Partial SOI type isolation for improvement of DRAM cell transistor characteristics」이 2005년 발간된 IEEE Electron Device Letters 제26권 제5호(pp. 332-334)에 게재됐다.
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이명진 저자의 논문 「Partial SOI type isolation for improvement of DRAM cell transistor characteristics」이 2005년 발간된 IEEE Electron Device Letters 제26권 제5호(pp. 332-334)에 게재됐다.